Фильтр
Оптический профилометр TopMap MicroView TMS-1400
TMS-1400 MicroView - это простой в использовании и компактный оптический профилометр. 

Характеристики
Оптический профилометр TopMap MicroView+ TMS-2400
TMS-2400 MicroView+ – это универсальная рабочая станция для применения на производственных участках контроля топографии поверхности.

Характеристики
TopMap Metro.Lab Интерферометр белого света TMS-150
TMS-150 TopMap Metro.Lab производства Polytec – это высокоточный интерферометр белого света (когерентный сканирующий интерферометр) с большим вертикальным диапазоном измерения.

TopMap Metro.Lab идеально подходит для бесконтактного измерения плоскостности, высоты ступени и параллельности больших поверхностей и структур даже на мягких или хрупких материалах. 

Характеристики
TopMap In.Line Интерферометр белого света TMS-350
Прибор TMS-350 TopMap In.Line отлично приспособлен для нужд контроля качества в процессе производства, где важны длительность цикла и точность измерения поверхностей, без контакта и с высокой скоростью.

Характеристики
TopMap Pro.Surf Интерферометр белого света TMS-500
TMS-500 TopMap Pro.Surf служит для быстрого, надежного и точного определения отклонений формы. Интерферометр белого света TopMap Pro.Surf – идеальное решение для бесконтактного измерения топографии прецизионных поверхностей в метрологи- ческой лаборатории, на производстве или даже в составе технологической линии, обладающее прочной конструкцией и высоким уровнем повторяемости.

Характеристики
TopMap Pro.Surf+ Интерферометр белого света TMS-500R
Удобство системы TMS-500-R TopMap Pro. Surf+ заключается в том, что она позволяет определять и отклонение формы, и шероховатость быстро, надежно и точно. Модернизация высококлассной системы TopMap Pro.Surf представляет собой многофункциональное решение благодаря встроенному датчику шероховатости.

Характеристики
Программное обеспечение
В дополнение к оптическим измерительным приборам компания Polytec предлагает:
  • опции программного обеспечения;
  • специализированные принадлежности;
  • и заказные изделия.

Характеристики
Индивидуальные решения
Компания Polytec предлагает не только решения «под ключ», но и индивидуально разработанные под специальные потребности заказчика аппаратные и программные средства.

Например, опция компенсации стекла для измерения сквозь прозрачные материалы.

Характеристики
Метрологические услуги и поддержка на выезде
Наши эксперты будут рады помочь Вам с выполнением специальных метрологических задач.

Характеристики
Оптический 3D профилометр поверхности SuperView W1
Интерферометрия белого света / 3D форма и шероховатость поверхности на нанометровом масштабе.

Характеристики
Оптический 3D профилометр поверхности SuperView W3
Измерение 3D формы и шероховатости поверхности больших образцов.

Характеристики

Линейка TopMap

Метрология поверхности в новом измерении

13.PNG

Контроль качества прецизионных поверхностей

Для оценки прецизионных и других сложных поверхностей требуется технология измерения, обеспечивающая надежность, скорость и адаптацию к задаче измерения. Гарантированная работоспособность и выявление дефектов на раннем этапе исключает лишние затраты и повышает качество и срок службы продукции в целом.

Компания Polytec решает задачи метрологии поверхности, используя инновационную, высокоточную, бесконтактную оптическую технологию, которая работает на шероховатых, гладких и ступенчатых поверхностях. Интерферометры белого света линейки TopMap — хорошо зарекомендовавшие себя приборы для контроля качества в лаборатории ОТК, на производстве или в составе технологической линии.

Измерение области поверхности с помощью интерферометрии белого света

Для структурированных функциональных поверхностей с жесткими допусками требуются высокоточные системы измерения, которые способны быстро сканировать топографию заготовки. Отработанная технология интерферометрии белого света обеспечивает разрешение нанометрового уровня.

14.PNG

15.PNG

Почему именно оптическое измерение?

  • бесконтактный, неразрушающий, повторяемый метод;
  • полная информация об исследуемой области в 3D – Вы не пропустите ни одной детали;
  • измерение почти на любой поверхности;
  • великолепное латеральное разрешение;
  • проверка производственных допусков за короткое время.

 Почему именно интерферометрия белого света TopMap?

  • большое поле зрения без склеивания изображений;
  • конструкция без объектива исключает риск столкновения;
  • технология «умное сканирование поверхности» позволяет проводить измерения почти на любых поверхностях независимо от отражающей способности;
  • высокая точность и повторяемость;
  • простота автоматизации;
  • великолепное вертикальное разрешение независимо от увеличения объектива.

Универсальность применения

Большой диапазон видов применения

Системы измерения поверхности TopMap от компании Polytec – в своей стихии везде, где требуется контроль мельчайших компонентов и структур. Бесконтактная интерферометрия белого света позволяет проводить измерения с разрешением в нанометровом и даже субнанометровом диапазоне.

Именно по этой причине приборы TopMap от компании Polytec стали стандартным средством в сфере производственного контроля качества.
Уплотнительные поверхности
Отклонение формы
16.PNG
17.PNG
Измерение коробления
МЭМС
18.PNG
19.PNG
Паяные контакты
Поршневой блок насоса
20.PNG
21.PNG
Измерение конуса
Измерение мембраны
22.PNG
23.PNG
Оптическая толщина
Трибология 
24.PNG
25.PNG
Быстрая проверка производственных допусков

Благодаря большому вертикальному диапазону и нанометровому разрешению системы Polytec TopMap идеально подходят для определения плоскостности, высоты ступени и параллельности больших поверхностей и структур из самых различных материалов.

26.PNG

... с высокой точностью, высокой повторяемостью и на основе прослеживаемых эталонов.