Переносные координатно-измерительные машины (КИМ) Kreon Ace, Kreon Baces предназначены для измерений геометрических размеров, отклонений формы и взаимного расположения поверхностей деталей сложной формы (лекал, шаблонов, моделей пресс-форм, кулачков, турбинных лопаток, аэродинамических профилей и т. д.)
Конструктивно КИМ состоят из шарнирно соединенных между собой частей (колен), смонтированных на специальных монтажных основаниях, противовеса, компьютерного блока управления и источника питания.
Принцип действия машин основан на измерении координат с помощью датчиков углового положения. В качестве контактных измерительных головок используются головки с набором щупов разного диаметра и формы фирмы Renishaw. Для бесконтактных измерений применяются лазерные сканеры моделей Solano lite, Solano, Solano blue, Zephyr II, Zephyr II blue, Skyline.
Каждая из модификаций машин имеет две конфигурации: 6-осевую и 7-осевую. 6-осевые в основном используются для контактных измерений, 7-осевые — для работы с лазерными сканерами.
Обе модели имеют температурную компенсацию. Работают в ручном режиме.
Лазерные сканеры моделей Solano Lite, Solano, Solano Blue, Zephyr II, Zephyr II blue, Skyline отличаются как конструктивным исполнением, так и техническими характеристиками. Лазерные сканеры моделей Solano Lite, Solano, Zephyr II могут использоваться только при измерении матовых поверхностей, сканеры Solano blue, Zephyr II blue и Skyline предназначены для измерений и матовых, и отражающих поверхностей.
При использовании контактных датчиков определяется координата центра сферы щупа при касании измеряемой поверхности.
При использовании лазерного сканера определяются координаты множества точек измеряемой поверхности в пределах поля зрения сканера. Базой для определения координат точек служит ширина окна сканирования и фокусное расстояние, величины которых различны для разных моделей.
На основе полученных координат точек с помощью программного обеспечения рассчитываются геометрические размеры, параметры отклонения формы и взаимного расположения поверхностей детали.