CX-300 — новейший полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), позволяющий анализировать еще больший спектр образцов, за счет добавления воздухозащитного модуля, предотвращающего возможные повреждения под воздействием атмосферы и возможности анализа больших площадей.
Ко всему прочему, автоматическая регулировка яркости и контрастности была уменьшена до 1 секунды. Оцените более быструю и оптимизированную визуализацию и выберите настройки CX-300 в соответствии с вашими конкретными требованиями.
Растровый электронный микроскоп EM-40 представляет новую модель в линейке настольных микроскопов серии EM. Оснащен технологией сверхбыстрой обработки сигнала 5-го поколения и обеспечивает высококачественное изображение с частотой до 13 кадров в секунду. Четыре режима обработки изображений (Fast, Slow, UltraFast, Photo).
Растровые электронные микроскопы (РЭМ) используются для исследования микроструктуры поверхности, количественного элементного анализа в точке наблюдения как природных объектов, так и искусственных материалов.