Оптические профилометры (интерференция белого света)

Линейка TopMap

Метрология поверхности в новом измерении

Контроль качества прецизионных поверхностей

Для оценки прецизионных и других сложных поверхностей требуется технология измерения, обеспечивающая надежность, скорость и адаптацию к задаче измерения. Гарантированная работоспособность и выявление дефектов на раннем этапе исключает лишние затраты и повышает качество и срок службы продукции в целом.

Компания Polytec решает задачи метрологии поверхности, используя инновационную, высокоточную, бесконтактную оптическую технологию, которая работает на шероховатых, гладких и ступенчатых поверхностях. Интерферометры белого света линейки TopMap — хорошо зарекомендовавшие себя приборы для контроля качества в лаборатории ОТК, на производстве или в составе технологической линии.

Измерение области поверхности с помощью интерферометрии белого света

Для структурированных функциональных поверхностей с жесткими допусками требуются высокоточные системы измерения, которые способны быстро сканировать топографию заготовки. Отработанная технология интерферометрии белого света обеспечивает разрешение нанометрового уровня.

Почему именно оптическое измерение?

бесконтактный, неразрушающий, повторяемый метод;
полная информация об исследуемой области в 3D – Вы не пропустите ни одной детали;
измерение почти на любой поверхности;
великолепное латеральное разрешение;
проверка производственных допусков за короткое время.

Почему именно интерферометрия белого света TopMap?

большое поле зрения без склеивания изображений;
конструкция без объектива исключает риск столкновения;
технология «умное сканирование поверхности» позволяет проводить измерения почти на любых поверхностях независимо от отражающей способности;
высокая точность и повторяемость;
простота автоматизации;
великолепное вертикальное разрешение независимо от увеличения объектива.

Универсальность применения

Большой диапазон видов применения

Системы измерения поверхности TopMap от компании Polytec – в своей стихии везде, где требуется контроль мельчайших компонентов и структур. Бесконтактная интерферометрия белого света позволяет проводить измерения с разрешением в нанометровом и даже субнанометровом диапазоне.

Именно по этой причине приборы TopMap от компании Polytec стали стандартным средством в сфере производственного контроля качества.

Уплотнительные поверхности	Отклонение формы

Измерение коробления	МЭМС

Паяные контакты	Поршневой блок насоса

Измерение конуса	Измерение мембраны

Оптическая толщина	Трибология

Быстрая проверка производственных допусков

Благодаря большому вертикальному диапазону и нанометровому разрешению системы Polytec TopMap идеально подходят для определения плоскостности, высоты ступени и параллельности больших поверхностей и структур из самых различных материалов.

... с высокой точностью, высокой повторяемостью и на основе прослеживаемых эталонов.